便携式光学膜厚仪在日常使用中有着8大功能

　　便携式光学膜厚仪是利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。

 

　　本仪器是使用白光干涉的原理，从而对样品表面的膜层进行测量，基本上所有光滑的、半透明的或者地吸收洗漱的薄膜都可以进行测量。

 

　　主要应用：

　　光学镀层行业如：硬涂层，抗反射层等涂层厚度测量；

　　生物医学行业如：聚对二甲苯，YL器械等领域可透光涂层膜厚的测量；

　　半导体行业如：光刻胶的厚度测量；加工膜层的厚度测量，介电层的厚度测量等；

　　液晶显示器行业如：OLED领域各种透明薄膜的厚度测量，玻璃上面涂层的厚度测量等。

　　便携式光学膜厚仪的应用领域极其广阔，适用于多种行业以及大学实验室等，提供低至纳米级别的薄膜厚度测量可能。

 

　　便携式光学膜厚仪的功能：

　　1、操作过程有蜂鸣声提示；

　　2、两种关机方式：手动关机方式和自动关机方式；

　　3、电池电压指示：低电压提示；

　　4、微功耗设计，在待机装态不到10微安的电流；

　　5、采用了磁性测厚方法，可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度；

　　6、可采用单点校准和两点校准两种方法对仪器进行校准；

　　7、可采用基本校准修正法对测头系统误差进行更新修正，保证仪器在测量过程中的准确性；

　　8、负数显示功能，保证仪器零位点校准的准确性，提高测试精度。