F2-RT 光谱反射和透射测量系统是美国Filmetrics新推出的物超所值同时测量反射率和透射率的仪器。

Filmetrics F10-ARc薄膜分析仪 目标光谱与多条反射光谱比较 – 自动评估反射率，*小/*大位置，并得出明确的读数结论。大 大的减少了人为造成的读数和计算误差。

Filmetrics 自动化厚度测量仪能以每秒测绘两个点的速度快速的测绘薄膜厚度，一般较短的波长 （例如， F50-UV） 可用于测量较薄的薄膜，而较长的波长则可以用来测量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

Filmetrics 薄膜厚度测量仪F10-HC薄膜测量系统，能够快速的分析薄膜 的反射光谱资料并提供测量厚度，加上F10-HC软件*的先进模拟演算法的设计，能够在厚膜中测量单层与多层（例如：底漆或硬涂层等）。

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics薄膜厚度测量仪F20都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。

Thetametrisis自动化光学膜厚仪 FR-Scanner自动化超高速薄膜厚度测量仪是一种紧凑的台式工具，适用于自动测绘晶圆片上的涂层厚度。FR-Scanner 可以快 速和准确测量薄膜特性:厚度，折射率，均匀性，颜色等。真空吸盘可应用于任何直径或其他形状的样片。